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植物冠層分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準(zhǔn)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。

型號(hào)：HD-G20

更新日期：2024-09-20

￥34000

植物冠層分析系統(tǒng)采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

型號(hào)：HD-G20

更新日期：2024-09-20

￥34000

植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像

型號(hào)：HD-G20

更新日期：2024-09-20

￥34000

植物冠層測量儀【霍爾德】一體化設(shè)計(jì)，包括液晶顯示屏、操作按鍵、存儲(chǔ)SD卡及測量探桿等。儀器菜單操作簡單，體積小，攜帶方便，可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。

型號(hào)：HED-G10

更新日期：2024-09-18

￥16800

植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系

型號(hào)：HED-G10

更新日期：2024-09-18

￥16800